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测量系统分析是在特殊原因造成的过程变差的基础上进行分析。
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稳定性是在有特殊原因变差的统计控制状态下，是测量系统对同一基准值在不同时间的偏倚的总变差。
以下哪种原因可能导致测量结果的变差（） 。A、零件的变差B、测量人内部变差C、测量仪器的变差D、测量环境导致的变差
在测量系统分析中，评价一个人使用一件测量设备，对同一零件的某一个特性进行多次测量下的变差，称为（）。A、重复性B、偏倚C、稳定性D、线性E、再现性
再现性：是指不同的操作人员采用不同的测量仪器，测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差，又叫系统间的误差。
测量系统的变差只能是由普通原因而不是特殊原因造成。
以下公式错误的是（）。A、 测量系统的偏倚＝测量值－真值（或约定真值）B、 TV（总变差）2＝EV（测量设备的变差）2＋PV（零件的变差）2C、 GRR（测量系统变差）2＝EV（测量设备的变差）2＋AV（评价人的变差）2D、 ndc（区别分类数）＝1.41*（PV/GRR）
