测量控制体系采用的方法不仅是测量设备的校准，检定，还包括（）对测量过程的变异作出评价。
测量控制体系由（）及其它组成。A、测量仪器的校准控制B、测量设备的计量确认C、测量结果的分析校准D、测量仪器实际工作范围E、测量过程的变异评价
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测量控制体系包括（）。A、测量设备的校准B、测量设备的计量确认C、测量设备的管理D、测量过程实施的控制
测量控制体系由下列（）部分组成。A、测量仪器的校准控制B、测量设备的计量确认C、测量结果的分析校准D、测量过程实施的控制E、测量过程的变异评价
测量控制体系，是指为实现测量过程的连续控制和计量确认所需的一组相关的或相互作用的要素。测量控制体系是由（）两部分组成的。A、测量设备的校准 B、测量设备的计量确认 C、测量设备的分析控制 D、测量过程实施的控制
关键测量过程可以采用对测量设备进行（）、（）、（）等方法控制.
测量设备外委检定/校准单位的选择和资质管理见MCX.608《测量管理体系外部供方控制程序》。委外校准的工作流程见MCX.701《测量设备控制程序》。（）
一般测量过程可以采用对测量设备进行（）、（）方法控制.
