根据SSPC-PA2,II型测厚仪通常采用非磁性薄片进行校正
根据SSPC-PA2,II型测厚仪是()A、非磁性恒压探头测厚仪B、磁性恒压探头测厚仪C、磁性拉伸测厚仪D、上述所有测厚仪E、非上述所有测厚仪
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SSPC-PA2要求查证电磁干膜测厚仪的校准情况有()。A、一天校准一次B、离塑料薄片边缘的距离不少于3英寸C、每天使用前和使用后校准D、在导电底材上进行校准
根据SSPC-PA2测试干膜厚度时,应进行多少任意测试()A、2B、3C、5D、15
根据SSPC-PA2,磁性拉伸式测厚仪(I型)应在喷砂清理具有粗糙度的表面上进行校正
采用塑料薄片校正干膜测厚仪时,通常选择的是()A、高于规定的干膜厚度的薄片B、尽可能接近规定的干膜厚度的薄片C、至少为3*3英寸(7.5厘米*7.5厘米)的薄片D、低于规定的干膜厚度的薄片
曲轴弯曲时,通常采用冷压法进行校正。
对于涂膜检测设备,测厚仪可分为()测厚仪和()测厚仪器A、磁性B、非磁性C、碱性