工件中缺陷的取向与X射线入射方向（）时，在底片上能获得最清晰的缺陷影像。
工件内部如有一面积型缺陷，当该缺陷面与射线投照方向成90°夹角时，在底片上的影像最清晰。
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从可检出最小缺陷的意义上说，射线照相灵敏度取决于（）A、底片成象颗粒度B、底片上缺陷图像不清晰度C、底片上缺陷图像对比度D、以上都是
在超声检测中，当缺陷的取向与超声波入射方向（）时，能获得最大的超声波反射。
被检件中缺陷的取向与超声波的入射方向（）时，可获得最大超声波反射。A、垂直B、平行C、倾斜45°D、都可以
照相上能发现工件中沿射线穿透方向上缺陷的最小尺寸称为：（）。A、照相反差B、照相清晰度C、照相梯度D、照相灵敏度
X射线照相灵敏度取决于（）。A、底片上缺陷影响的不清晰度B、底片黑度C、曝光时间D、以上都对
射线透射检验时，工件中靠近射线源的缺陷，在（）的情况下，清晰度降低。A、工件厚度减小B、焦点尺寸减小C、工件厚度增加D、焦距增大
