JB/T4730.4-2005标准对磁痕显示的分类是按磁痕的产生原因、形状和方向进行的,没有涉及缺陷的定性。
JB/T4730—2005标准关于缺陷磁痕的观察有哪些要求?
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JB/T4730.4-2005标准规定:长宽比大于3的缺陷磁痕,按线性缺陷处理,长宽比小于3的缺陷磁痕,按圆形缺陷处理。
JB/T4730.4-2005标准规定:缺陷磁痕显示的记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录,同时应用草图标示。
当磁场方向与缺陷延伸方向平行时(),发现不了缺陷。A、产生强磁痕显示 B、产生弱磁痕显示 C、不产生磁痕显示 D、模糊的磁痕显示
JB/T4730.4-2005标准规定:磁粉检测时,长度小于等于0.5mm的缺陷磁痕不计。
JB/T4730.4-2005标准规定:缺陷磁痕的观察应在磁痕形成后立即进行。
试件的几何形状或磁导率的变化等均可形成磁痕,这些磁痕是()显示。