当量法用来测量大于声束截面的缺陷的尺寸。
锻件检测,如果用试块比较法对缺陷定量,对于表面粗糙的缺陷,缺陷实际尺寸会()A、 大于当量尺寸B、 等于当量尺寸C、 小于当量尺寸D、 以上都可能
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在锻件检测中,对于尺寸大于声束截面的缺陷一般采用当量法定量。
使用半波高度法测定小于声束直径的缺陷尺寸时,所测的结果:()A、小于实际尺寸B、接近声束宽度C、稍大于实际尺寸D、等于晶片尺寸
斜探头探测两个表面光滑平整、相互平行,但与入射声束取向不良的缺陷。其当量为()。A、面积大于声束截面的当量一定大B、面积小于声束截面的当量反而大C、当量忽大忽小D、以上都可能
对于小于声束截面的缺陷可用()评定其大小。A、当量法B、缺陷回波高度法C、底面回波高度法D、延伸度定量评定法
半波高度法用来测量小于声束截面的缺陷的尺寸。
采用当量法确定的缺陷尺寸一般大于缺陷的实际尺寸。