测头离导电基体越近,涡流越大,反射阻抗越大,利用这个原理测量覆层

题目

测头离导电基体越近,涡流越大,反射阻抗越大,利用这个原理测量覆层厚度的是()

  • A、电涡流测量
  • B、磁感应测量
  • C、磁吸力测量
  • D、库伦法
参考答案和解析
正确答案:A